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Renesas, 가상화 지원 기능을 갖춘 28nm MCU 개발

르네사스 일렉트로닉스(Renesas Electronics)는 28nm 저전력 공정을 사용하는 차세대 자동차 제어 플래시 MCU 구현을 위한 기술적 디딤돌로 자동차 테스트 칩의 개발 및 성공적인 작동 검증을 발표했습니다.

마이크로컨트롤러는 잠금 단계 메커니즘과 16MB 대용량 플래시 메모리를 갖춘 4개의 600MHz CPU와 MCU 가상화를 가능하게 하는 가상화 지원 기능을 갖추고 있습니다. 이 기술을 사용하면 여러 소프트웨어 구성 요소를 서로 간섭하지 않고 단일 MCU에서 실행할 수 있습니다. 따라서 도로 차량에 대한 ISO 26262 기능 안전 표준에 따라 지정된 가장 높은 자동차 안전 무결성 수준인 ASIL D의 요구 사항을 충족합니다. MCU 자체 진단 오류 감지를 위한 향상된 내장 자체 테스트(BIST) 기능은 대기 재개 기간 동안 실행되는 새로 개발된 SR-BIST(대기 재개 BIST) 기능 덕분에 ASIL D를 구현하는 데 필요합니다. . MCU는 또한 센서 정보의 고속 전송을 위한 기가비트 이더넷 인터페이스를 포함하여 향상된 네트워킹 기능을 제공합니다.

Renesas는 2월 18일 International Solid-State Circuits Conference 2019에서 "A 28nm 600MHz Automotive Flash Microcontroller with Virtualization-Assisted Processor for Next Generation Automotive Architecture Complying with ISO26262 ASIL D" 세션에서 테스트 결과를 발표할 예정입니다.

Renesas는 테스트 칩에서 검증된 기술을 기반으로 새로운 28nm 플래시 MCU를 적극적으로 개발하고 차세대 친환경 자율주행 자동차를 구현하고 보다 안전하고 안전한 운전 경험을 실현하는 데 도움을 주기 위해 계속 노력할 계획입니다.


임베디드

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