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르네사스, 가상화 지원 안전 기능 탑재 28nm 자동차용 MCU 발표

르네사스 일렉트로닉스가 첨단 자동차 테스트 칩의 성공적 검증을 발표하며, 28nm 저전력 공정 기반 차세대 플래시 마이크로컨트롤러의 길을 열었습니다.

프로토타입 주요 사양

프로토타입 마이크로컨트롤러는 록스텝 구성의 4개 600MHz 코어, 넉넉한 16MB 플래시 메모리, 단일 칩에서 여러 소프트웨어 구성요소가 간섭 없이 공존하게 하는 가상화 지원 기능 제품군을 자랑합니다. 이 능력은 최고 자동차 안전 무결성 수준인 ISO 26262 ASIL D의 엄격한 요구사항을 충족합니다.

ASIL D 준수 지원 기능

ASIL D 준수를 지원하기 위해 칩은 향상된 내장 자기 테스트(BIST) 시스템을 포함하며, 여기에는 전력 다운 사이클 중 동작해 결함을 감지하는 대기-재개 BIST(SR-BIST)가 포함됩니다. 기가비트 이더넷 인터페이스 같은 향상된 네트워킹 기능으로 센서 페이로드의 고속 데이터 전송을 제공합니다.

학회 발표와 향후 계획

르네사스는 2월 18일 국제 고체 회로 회의(ISSCC)에서 'ISO 26262 ASIL D 준수 차세대 자동차 아키텍처용 가상화 지원 프로세서 탑재 28nm 600MHz 자동차 플래시 마이크로컨트롤러' 세션에서 테스트 결과를 발표할 예정입니다.

이 검증된 기술을 기반으로 르네사스는 새로운 28nm 플래시 MCU 개발을 가속화해 친환경 자율주행차와 더 안전하고 안전한 운전 경험에 대한 약속을 강화할 계획입니다.

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