N-포트 측정 최적화: 멀티포트 VNA vs 스위치 매트릭스

많은 엔지니어들이 2포트 VNA를 멀티채널 측정을 위해 외부 스위치 매트릭스로 확장하지만, 이 접근법은 속도, 정확도, 시스템 복잡성 측면에서 트레이드오프가 있습니다. RF 및 고속 디지털 시스템이 계속 확장됨에 따라 이러한 트레이드오프가 언제 중요한지 이해하는 것이 필수적입니다.

이 60분 웨비나에서는 스위치드 2포트와 진정한 멀티포트 VNA 측정 아키텍처 간의 명확하고 실용적인 비교를 제공합니다. 참석자들은 스위프 횟수, 삽입 손실, 격리도, 캘리브레이션 복잡성이 두 접근법 간에 어떻게 다른지, 그리고 이러한 차이가 실제 결과에 어떻게 영향을 미치는지 배웁니다. 케이블 어셈블리, 빔포밍 어레이, 멀티채널 디바이스의 생산 테스트 등 대표적인 사용 사례를 검토함으로써, 엔지니어와 테스트 팀이 측정 목표에 가장 적합한 전략을 선택할 수 있도록 돕습니다.

주요 주제

• 스위치드 2포트 시스템의 한계
• 진정한 N-포트 측정이 수행되는 방식
• 대용량 포트 수를 위한 캘리브레이션 전략
• 엔지니어링 및 생산 테스트 시사점

기술 발표 후 청중 Q&A 세션이 이어집니다.

연사

Brian Walker, 수석 RF 엔지니어, Copper Mountain Technologies

Brian Walker는 Copper Mountain Technologies의 수석 RF 엔지니어이자 SME입니다. 그는 고객의 기술적 문제 해결을 돕고 테스트 및 측정 분야 VNA 응용을 위한 새로운 솔루션을 개발합니다. Brian은 40년의 RF 설계 경력을 가지고 있습니다. 이전에는 Bird Electronics의 RF 설계 매니저로 RF 설계자 팀을 이끌고 새롭고 혁신적인 제품을 만들었습니다. 그 전에는 Motorola Component Products Group에서 통신 기기용 세라믹 콤라인 필터 설계 담당이었습니다. 뉴멕시코 대학교 학위를 보유하고 있으며, IEEE 선임 회원으로 미국 특허 3건을 저술했습니다.

모더레이터

Amanda Hosey, 편집자, SAE Media Group