N-포트 측정 최적화:멀티포트 VNA와 스위치 매트릭스 비교

많은 엔지니어가 다중 채널 측정을 위해 2포트 VNA를 확장하기 위해 외부 스위치 매트릭스를 사용합니다. 그러나 이 접근 방식에는 속도, 정확성 및 시스템 복잡성이 절충됩니다. RF 및 고속 디지털 시스템이 지속적으로 확장됨에 따라 이러한 절충 사항이 언제 중요한지 이해하는 것이 중요합니다.

60분 동안 진행되는 이 웹 세미나에서는 스위칭된 2포트 VNA 측정 아키텍처와 진정한 멀티포트 VNA 측정 아키텍처를 명확하고 실용적으로 비교합니다. 참석자들은 스윕 횟수, 삽입 손실, 절연 및 교정 복잡성이 접근 방식에 따라 어떻게 다른지, 그리고 이러한 차이가 실제 결과에 어떤 영향을 미치는지 배우게 됩니다. 케이블 어셈블리, 빔포밍 어레이, 다중 채널 장치의 생산 테스트 등 대표적인 사용 사례를 검토함으로써 이 세션은 엔지니어와 테스트 팀이 측정 목표에 가장 적합한 전략을 선택하는 데 도움이 될 것입니다.

주요 주제는 다음과 같습니다:

• 스위치 2포트 시스템의 한계
• 실제 N 포트 측정이 수행되는 방법
• 대규모 포트 수에 대한 보정 전략
• 엔지니어링 및 생산 테스트에 미치는 영향

기술 프레젠테이션 후에는 청중 Q&A 세션이 진행됩니다.

연사:

Brian Walker, Copper Mountain Technologies 수석 RF 엔지니어

Brian Walker는 Copper Mountain Technologies의 SME 수석 RF 엔지니어입니다. 그는 고객이 기술 문제를 해결하도록 돕고 테스트 및 측정 분야에서 VNA 애플리케이션을 위한 새로운 솔루션을 개발합니다. Brian은 40년의 RF 설계 경험을 갖고 있습니다. 그는 이전에 Bird Electronics의 RF 설계 관리자로 재직하면서 RF 설계 팀을 지휘하고 새롭고 혁신적인 제품을 만들었습니다. 그 전에는 Motorola 부품 제품 그룹에서 근무하면서 통신 장치용 세라믹 콤라인 필터 설계를 담당했습니다. 브라이언은 뉴멕시코 대학교에서 학위를 취득했으며 IEEE의 선임 회원으로 3개의 미국 특허를 취득했습니다.

사회자:

Amanda Hosey, SAE 미디어 그룹 편집자