산업기술
멀티미터로 JFET를 테스트하는 것은 게이트와 소스 사이 또는 게이트와 드레인 사이에서 측정되는 테스트할 단 하나의 PN 접합만 있는 것을 볼 때 비교적 쉬운 작업으로 보일 수 있습니다.
그러나 드레인-소스 채널을 통한 연속성을 테스트하는 것은 또 다른 문제입니다. 마지막 섹션에서 게이트 채널 PN 접합의 커패시턴스 양단에 저장된 전하가 외부 전압이 인가되지 않고 JFET를 핀치오프 상태로 유지하는 방법을 기억하십니까? 이것은 테스트하기 위해 JFET를 손에 들고 있을 때도 발생할 수 있습니다! 결과적으로 게이트-채널 접합에 의해 전하가 저장되고 있는지 여부를 반드시 알 수 없기 때문에 해당 채널을 통한 연속성에 대한 미터 판독값은 예측할 수 없습니다. 물론, 디바이스의 어떤 단자가 게이트, 소스, 드레인인지 미리 알고 있다면 게이트와 소스 사이에 점퍼 와이어를 연결하여 저장된 전하를 제거한 다음 문제 없이 소스-드레인 연속성 테스트를 진행할 수 있습니다. 그러나 어떤 터미널이 어떤 터미널인지 모르는 경우 소스-드레인 연결의 예측 불가능성으로 인해 터미널 ID 결정이 혼동될 수 있습니다.
JFET를 테스트할 때 따라야 할 좋은 전략은 테스트 직전에 트랜지스터의 핀을 정전기 방지 폼(정전기에 민감한 전자 부품을 운송 및 보관하는 데 사용되는 재료)에 삽입하는 것입니다. 폼의 전도성은 삽입될 때 트랜지스터의 모든 단자 사이에 저항성 연결을 만듭니다. 이 연결은 게이트-채널 PN 접합 전체에 축적된 모든 잔류 전압이 중화되도록 하여 소스-드레인 연속성에 대한 정확한 미터 테스트를 위해 채널을 "개방"합니다.
JFET 채널은 중단되지 않은 단일 반도체 재료 조각이기 때문에 일반적으로 소스와 드레인 단자 사이에 차이가 없습니다. 소스에서 드레인으로의 저항 검사는 드레인에서 소스로의 검사와 동일한 값을 산출해야 합니다. 이 저항은 게이트-소스 PN 접합 전압이 0일 때 상대적으로 낮아야 합니다(최대 수백 옴). 게이트와 소스 사이에 역 바이어스 전압을 적용하면 미터의 저항 판독값이 증가하여 채널 핀치오프가 분명해집니다.
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