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탭 테스트를 통한 가공 잡담 방지:정확한 안정성 맵 구축

탭 테스트에서는 계측용 해머를 사용하여 구조물을 자극하고 가속도계와 같은 변환기로 진동 응답을 측정합니다. 이 테스트의 목적은 선택한 기계 구조에 대한 주파수 응답 함수(FRF)를 식별하는 것입니다. FRF가 주어지면 채터링을 생성하는 스핀들 속도와 축 깊이의 조합(즉, 파란색 경계 위)과 그렇지 않은 조합(경계 아래)을 분리하는 안정성 맵을 계산할 수 있습니다. 이를 통해 시행착오 없이 안정적인 가공 매개변수를 선택할 수 있습니다. 그림 1을 참조하세요.

그림 1:밀링 안정성 맵. 출처(모든 수치):Tony Schmitz

FRF를 측정하는 데 필요한 기본 하드웨어는 다음과 같습니다.

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동적 신호 분석기에는 시간 영역 힘과 진동 신호에 대한 입력 채널이 포함되어 있으며 이러한 신호의 푸리에 변환을 계산하여 주파수 영역으로 변환합니다. 그런 다음 주파수 영역 진동 신호와 주파수 영역 힘 신호의 비율을 계산합니다. 이 비율이 FRF입니다. 설정의 개략도는 그림 2에 나와 있습니다. 여기에는 변위 x의 형태를 취할 수 있는 시간 영역 힘과 진동이 포함됩니다. , 속도, , 또는 가속도, , 각각에 대한 입력 및 증폭기. 증폭기는 신호의 진폭을 높이는 데 사용됩니다. 힘과 진동은 시간에 따라 연속되는 아날로그 신호입니다. 그러나 분석기로 이러한 신호를 기록하려면 작은 시간 간격으로 샘플링하거나 디지털화해야 합니다. 이 프로세스는 아날로그-디지털 변환기(ADC)를 사용하여 완료됩니다. 그런 다음 이러한 디지털 신호는 동적 신호 분석기에 의한 FRF 계산에 사용됩니다. 진동 입력 유형에 따라 FRF는 다음과 같이 표현될 수 있습니다.

그림 2:FRF 측정 설정의 도식

힘 여기에는 세 가지 일반적인 유형이 있습니다. 여기에는 다음이 포함됩니다:

이러한 다양한 힘을 생성하기 위해 두 가지 일반적인 유형의 힘 입력 하드웨어가 적용됩니다:

그림 3:셰이커 설정.

진동 변환기는 비접촉식과 접촉식으로 모두 제공됩니다. 커패시턴스 프로브 및 레이저 진동계와 같은 비접촉 변환기는 구조 역학에 영향을 미치지 않기 때문에 선호되지만 가속도계와 같은 접촉 유형은 구현하기 더 편리한 경우가 많습니다. 절충안으로 저질량 가속도계를 사용하여 테스트 구조에 대한 영향을 최소화할 수 있습니다. 왁스, 접착제, 자석 또는 나사형 스터드를 사용하여 관심 위치에 부착한 후 테스트가 완료되면 제거합니다.

그림 4:탭 테스트의 핵심 요소.

그림 4는 탭 테스트의 핵심 요소를 식별합니다. 왼쪽 아래 사진은 도구 팁을 두드리는 데 사용되는 망치와 진동 응답을 측정하는 데 사용되는 가속도계(도구 팁에 왁스가 부착된)를 보여줍니다. 맨 위 행에는 힘과 진동에 대한 시간 응답이 표시됩니다. 탭이 짧은 지속 시간의 힘 입력을 생성하는 것을 볼 수 있습니다. 이 힘으로 인해 공구는 진폭이 감소하면서 진동합니다(댐핑으로 인해). 가운데 행은 이러한 신호를 주파수 영역으로 변환한 것을 보여줍니다. 탭은 광범위한 주파수를 자극합니다. 맨 아래 행에는 FRF가 표시됩니다. 이 플롯에서 각 진동 모드에 대한 고유 진동수, 강성 및 감쇠비를 식별할 수 있습니다.


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