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멀티미터로 양극성 접합 트랜지스터(BJT) 식별 및 테스트하기

양극성 트랜지스터는 3층 반도체 샌드위치로 제작—PNP 또는 NPN. 멀티미터가 저항 또는 다이오드-체크 모드로 설정되면, BJT는 두 개의 백-투-백 다이오드처럼 거동. 이 단순 테스트로 데이터시트 없이 소자 검증과 핀 식별 가능.

단일 연속성 범위만 있는 일반적인 멀티미터로 테스트 시, PNP 트랜지스터의 베이스에 음극(검정) 리드를 놓으면 베이스에서 낮은 저항 표시. 트랜지스터 기호에서 베이스의 N-형 물질은 베이스-이미터 접합 화살표가 베이스를 향함으로 표시. 접합 반대편은 P-형 이미터, 컬렉터도 P-형.

멀티미터로 양극성 접합 트랜지스터(BJT) 식별 및 테스트하기
PNP 트랜지스터 미터 체크: (a) 순방향 B-E, B-C, 저항 낮음; (b) 역방향 B-E, B-C, 저항 ∞.

일부 미터는 전용 "다이오드 체크" 모드 제공. 가능하면 일반 저항 설정 대신 사용; 디스플레이는 각 PN 접합의 실제 순방향 전압 표시, 단순 통과/실패 읽기 대신.

NPN 소자에서는 읽기가 반전: 빨간(+ ) 리드가 베이스에 있을 때 낮은 저항 나타남, 베이스 접합의 반대 극성 반영.

다이오드-체크 모드 사용 시, 이미터-베이스 접합이 컬렉터-베이스 접합(≈0.62V)보다 약간 높은 순방향 전압(≈0.65V) 표시. 이 차이는 이미터 층의 더 고농도 도핑으로 장벽 전위 상승 때문.

순방향 전압 차이를 알면 표시 없는 트랜지스터에서 어느 핀이 어떤지 판별 가능—BJT 리드 물리적 배치가 표준화되지 않았기 때문에 중요. 모든 양극성 트랜지스터는 세 와이어 가지지만, 위치는 패키지 유형별로 다름.

표시 없는 트랜지스터를 찾아 다이오드-체크 모드에서 연속성 측정했다고 가정. 다음 표가 결과 기록:

멀티미터로 양극성 접합 트랜지스터(BJT) 식별 및 테스트하기

전도하는 쌍은 1-3과 2-3뿐, 둘 다 빨간 리드가 첫 핀, 검은 리드가 세 번째 핀. 이들은 각각 순방향 바이어스된 이미터-베이스(0.655V)와 컬렉터-베이스(0.621V) 접합에 대응.

와이어 3이 두 전도 쌍에 공통이므로 베이스여야 함. 순방향 테스트에서 검은 리드가 와이어 3에 있었으므로 베이스는 N-형. 따라서 트랜지스터는 PNP로 와이어 1이 이미터, 와이어 2가 컬렉터, 와이어 3이 베이스, 아래 그림과 같음.

멀티미터로 양극성 접합 트랜지스터(BJT) 식별 및 테스트하기

베이스 핀이 항상 중간 리드는 아님, 단순화된 "샌드위치" 다이어그램과 달리. 실제로는 핀 식별이 미터 체크나 부품 데이터시트에 의존해야 함.

멀티미터로 BJT 테스트는 소자 존재 확인뿐만 아니라 기능 여부도 드러냄. 소자가 예상 두 쌍보다 많거나 적은 쌍에서 전도하면, 결함이 있거나 BJT가 아닐 가능성 높음.

두 다이오드 모델을 넘어 트랜지스터 동작을 설명하기 위해, 아래 단순 스위칭 회로 고려. 베이스-이미터 접합을 순방향 바이어스시키는 작은 베이스 전류가 컬렉터-베이스 접합이 역바이어스됨에도 큰 컬렉터-이미터 전류 흐름 허용. 이 현상은 트랜지스터 내부 도핑 프로파일과 두 개의 고립된 다이오드로 복제할 수 없는 양자역학적 효과의 결과.

멀티미터로 양극성 접합 트랜지스터(BJT) 식별 및 테스트하기
단 몇 마이크로암페어 베이스 전류가 상당한 컬렉터 전류를 위한 "게이트"를 열음, 회로에서 램프 점등으로 확인.

트랜지스터를 두 직렬 다이오드로 모델링하려는 초기 시도는 역바이어스된 컬렉터-베이스 접합이 베이스 흐르는 전류와 관계없이 절대 전도하지 않기 때문에 실패. 이미터, 베이스, 컬렉터 층의 정밀한 도핑 비율과 공간 배열이 트랜지스터 작용에 필수—"양극성 접합 트랜지스터, 2장" 같은 반도체 물리학 텍스트에서 깊이 다룸.

핵심 요약:

추가 연습은 관련 섹션 링크된 양극성 접합 트랜지스터(BJT) 이론 워크시트 시도.

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