마이크로스트립 회로 및 재료 특성화 시스템

밀리미터파 주파수에서 마이크로스트립 초전도막을 특성화하는 것은 복잡한 박막 제조 공정을 거치지 않고서는 어렵습니다. 이 특성화에는 10100ppm(백만분율)의 분해능에서 저항 손실 측정이 포함됩니다.

일반적으로 마이크로스트립 초전도 필름의 특성화는 초전도 필름 구조의 일부로 안테나 결합 볼로미터를 사용합니다. 볼로미터는 온도 의존적 ​​전기 저항이 있는 재료의 가열을 통해 입사 전자기 복사를 측정하는 구성요소입니다. 그러나 이 공정은 볼로미터와 같은 내장형 검출기가 초전도 필름 제조 공정을 더 어렵게 만들기 때문에 불리합니다. 이 공정은 또한 다양한 밀리미터파 부품을 필요로 하여 필름 제조를 더욱 복잡하게 만듭니다. 또한 초전도 필름을 특성화하려면 맞춤형 장비가 필요하며 다양한 제조 공정에 따라 달라질 수 있습니다.

Microstrip 회로 및 재료 특성화 시스템은 필름 네트워크 매개변수의 진폭 및 위상 특성을 측정하는 VNA(벡터 네트워크 분석기)를 사용하여 밀리미터파 주파수에서 초전도 필름 저항 손실을 측정할 수 있습니다.

시스템은 2포트 도파관 구조로 구성됩니다. 포트는 초전도 필름 안팎으로 밀리미터파 전력을 송수신하는 데 사용됩니다. 도파관 구조는 도파관 특성 임피던스를 광범위한 주파수에 걸쳐 마이크로스트립 라인 임피던스로 변환하여 초전도막과 접촉하는 데 사용됩니다. 초전도 필름에는 다양한 주파수에서 저항 손실과 유효 유전 상수를 측정하는 데 사용할 수 있는 마이크로스트립 라인 공진기가 포함되어 있습니다.

시스템은 밀리미터파 송신기 및 수신기에 연결하여 작동합니다. 이 시스템은 마이크로스트립 라인 샘플의 전송 손실을 측정하는 데 사용됩니다. 초전도 마이크로스트립 필름 측정의 경우, 필름 옴 손실과 전송 라인의 전파 상수를 측정하기 위해 장치를 초전도체 임계 온도 이하로 냉각해야 합니다. 이 시스템은 10ppm만큼 낮은 마이크로스트립 라인의 손실을 측정하는 데 사용할 수 있으며 0K ~ 320K의 온도 범위 내에서 작동할 수 있습니다.

NASA는 이 기술을 상업화할 라이선스 사용권자를 적극적으로 찾고 있습니다. 이 이메일 주소는 스팸봇으로부터 보호됩니다. 그것을 보려면 JavaScript가 활성화되어 있어야 합니다. 또는 202-358-7432로 전화하여 라이선스 논의를 시작하십시오. 여기 링크를 따르십시오. 자세한 정보 .