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TiO2 나노튜브 어레이:소프트-하드 템플릿으로 제작된 전계 방출 성능의 입자 크기 의존성

초록

고도로 주문된 TiO2 나노튜브(TNT) 어레이는 소프트 및 하드 템플릿의 조합에 의해 성공적으로 합성되었습니다. 이들의 제조에서 양극 산화알루미늄 막은 단단한 주형으로 작용하는 반면, TiO<하위>2 ) TiO2의 입자 크기를 제어하는 ​​소프트 템플릿을 제공합니다. 나노튜브. 우리의 결과는 전계 방출(FE) 성능이 소성된 TiO2의 입자 크기에 결정적으로 의존함을 나타냅니다. PS-b-PEO와 TTIP와의 혼합 비율이 지배적입니다. 최적화된 샘플(TTIP/PEO 비율 3.87)은 3.3V/um의 낮은 턴온 필드와 7.6mA/cm의 높은 전류 밀도를 모두 포함하는 우수한 FE 성능을 나타냅니다. 2 12.7V/μm에서 향상된 FE 특성은 TiO2의 더 작은 입자 크기로 인한 낮은 유효 일함수(1.2 eV)에 기인할 수 있습니다. .

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배경

1차원 나노물질은 전자 전계 방출체와 같은 다양한 응용 분야에 대한 잠재력으로 인해 큰 관심을 끌었습니다[1,2,3,4,5]. TiO2 나노튜브(TNT)는 높은 종횡비, 낮은 일함수(4.5 eV) 및 높은 내산화성으로 인해 방출체로 유망한 후보입니다[4]. 나노튜브의 직경, 높이, 벽 두께, 밀도뿐만 아니라 전계 방출(FE) 성능의 나노어레이 종속성의 규칙성이 자세히 조사되었습니다[6, 7]. 합성 접근법[8, 9]의 개발을 통해 상당한 수의 나노튜브 어레이를 사용할 수 있습니다. 특히, 템플릿 전략은 나노튜브 어레이를 제조하는데 널리 사용되어 왔다. 예를 들어, Tsai et al. 양극 산화알루미늄(AAO)을 사용하여 다양한 크기와 주기를 가진 다이아몬드 나노팁 어레이를 준비했습니다[10]. 준비하는 동안 AAO 멤브레인의 마이크로 채널은 고도로 정렬된 나노어레이의 형성을 유도하는 우수한 하드 템플릿 역할을 할 수 있습니다. 다공성 TiO2 합성에서 우리의 이전 연구에서 나노섬유는 블록 공중합체의 자가 조립이 TiO2의 선택적 분포 및 입자 크기 조작을 위한 효과적인 템플릿으로 입증되었습니다. [11]. 조정 가능한 입자 크기를 가진 고도로 정렬된 TNT 어레이는 소프트 템플릿과 하드 템플릿의 조합으로 예상할 수 있습니다. 먼저 TiO2의 직경, 중심 간 거리 및 길이를 조정하는 것이 쉽습니다. 다양한 AAO 멤브레인을 사용한 어레이; 다른 예로 TiO2의 벽 두께, 입자 크기 및 밀도 나노튜브는 블록 공중합체와 TiO2 전구체의 제어 하에 있습니다. . 가장 중요한 것은 TNT 어레이 및 튜브 레벨의 구조 제어를 별도로 수행할 수 있다는 것입니다. 따라서 이 작업에서는 TiO2 다양한 입자 크기를 가진 어레이가 TTIP(티타늄-테트라이소프로폭사이드)/블록 공중합체의 혼합물로 제작되었습니다. 고순도 어레이 형성을 위한 하드 템플릿(AAO) 외에도 PS-b-PEO를 소프트 템플릿으로 사용하여 TiO2의 입자 크기를 제어합니다. . 생성된 TNT 어레이의 전계 방출 성능은 명백한 입자 크기 의존성을 나타내며, 이는 유효 일함수의 변화에 ​​기인합니다.

방법

기공 크기가 ~ 200 nm이고 두께가 60 μm인 다공성 AAO 멤브레인(Whatman, Germany) 및 분자량 58,500–37,000, 58,600인 폴리스티렌-블록-폴리(에틸렌 옥사이드)(Sigma-Aldrich, USA) –71,000 및 60000–14,500 g/mol이 사용되었습니다. Titanium-tetraisopropoxide(TTIP, Sigma-Aldrich, USA)는 TiO2의 전구체로 작용합니다. . PS-b-PEO 및 TTIP를 다양한 조성비로 클로로포름에 용해시켰다(표 1). S1 내지 S5는 표시된 블록 공중합체 및 블렌드 비율에 해당하는 샘플입니다. 예를 들어, S1은 Mw의 블록 공중합체를 사용하여 제조되었습니다. =58,500–37,000이고 TTIP/PEO 혼합 비율은 3.87입니다. 실온에서 5시간 동안 교반한 후, 혼합 용액을 AAO 막의 바닥으로 옮겼다. 솔루션은 모세관 효과에 따라 AAO의 채널로 들어갈 수 있습니다. 그런 다음, 샘플을 진공에서 12시간 동안 120°C에서 건조시켰다. 공기 중에서 450℃에서 2시간 동안 소성한 후, 샘플을 NaOH 용액(3mol/L)에 1시간 동안 침지시켜 알루미나 프레임을 제거하였다. 마지막으로, 생성물을 탈이온수로 세척하고 40°C에서 24시간 동안 건조시켰다(도식 1).

<사진>

소프트 템플릿과 하드 템플릿의 조합으로 TNT 어레이 준비

5.0 kV의 가속 전압에서 형태 측정을 위해 Hitachi S-4800 FESEM을 사용하였다. X선 회절(smartlab3, Rigaku Japan) 데이터는 0.02°의 간격으로 2°/분의 스캔 속도로 수집되었습니다. 전자 전계 방출 측정은 진공 챔버(2 × 10 -6 토르).

결과 및 토론

그림 1은 S1을 예로 들어 TNT 어레이의 일반적인 SEM 이미지를 보여줍니다(모든 샘플은 유사한 형태를 나타냄). 측면도의 SEM 이미지(그림 1a)에는 직경이 ~ 200 nm인 수직으로 정렬된 나노튜브가 있습니다. 그림 1b는 나노튜브의 직경을 더 확인할 수 있는 TNT 어레이의 평면도의 SEM 이미지를 보여줍니다. 그림 2는 40°C에서 24시간 동안 건조된 모든 샘플의 XRD 프로파일을 보여줍니다. 25°, 38° 및 48°에 강한 회절 피크가 있으며, 이는 보고된 아나타제 TiO2 값과 잘 일치합니다. JCPDS 카드 번호 84-1286에서. 모든 샘플은 (101) 평면(25°)을 따라 강한 우선적 성장 방향을 나타냅니다. Debye-Scherrer 공식[12]을 사용하여 (101) 회절 피크의 반치폭(FWHM)에서 평균 입자 크기를 계산했습니다.

$$ D=0.9\lambda /{\beta}_{2\theta}\cos \theta $$

여기서 D , λ , β 2θ , 및 θ 각각 평균 ​​입자 크기, X선 파장(1.5418Å), FWHM(라디안) 및 브래그 회절각입니다. 샘플 입자 크기는 표 1에 나열되어 있습니다. 분명히 블렌드에서 TTIP 중량 분율이 증가하면(S1에서 S3으로) 입자 크기가 더 커집니다.

<그림>

측면에서 얻은 TNT의 SEM 이미지(a ) 및 상단 (b ) 보기

<그림>

TNT 어레이의 XRD 프로파일

Fowler-Nordheim(F-N) 이론은 일반적으로 TNT 어레이의 FE 특성을 추가로 분석하는 데 사용됩니다[13]. J로 표현할 수 있습니다. =( 2 2 /φ ) exp(− 3/2 /βE ), 여기서 J FE 전류 밀도(A/cm 2 ), E 는 적용된 전기장(V/μm), 일 함수(TiO2의 경우 4.5 eV) ), β 는 에미터 지오메트리와 관련된 필드 향상 요소이고 A 그리고 B 값이 1.56 × 10 −6 인 상수입니다. (A eV V −2 ) 및 6.83 × 10 3 (eV −3/2 V μm −1 ), 각각. 그림 3a는 전류 밀도-전기장(J–E ) 지수 의존성을 나타내는 TNT 음극의 플롯. 턴온 필드와 임계 필드는 0.01 및 1.0mA/cm 2 방출 전류 밀도에서의 전기장으로 정의됩니다. , 각각. S1의 경우 턴온 필드와 임계값 필드는 각각 3.3 및 6.4 V/μm이며 그림 3b와 같이 우수한 사이클 안정성을 제공합니다. 그러나 턴온 필드는 S2 및 S3에 대해 각각 10.3 및 13.2 V/μm입니다. 연구된 전기장 범위 내에서 S2 및 S3의 결과에서 임계 전압이 관찰되지 않습니다. 이들 사이에서 전계방출 성능의 큰 차이의 이유를 명확히 하기 위해 TiO2의 서로 다른 나노튜브 두께와 입자 크기에 주목합니다. XRD 프로파일에서 얻습니다. 한 가지는 S1, S2 및 S3에서 두께(SEM 이미지에서 추정, 여기에 표시되지 않은 데이터)는 각각 24, 29 및 36 nm입니다. 또 다른 예로, 아나타제 TiO2의 입자 크기는 XRD 프로파일에서 얻은 결과는 표 1과 같이 10.7(S1), 12.5(S2), 14.9 nm(S3)입니다. 전계 방출 성능에서 튜브 두께와 입자 크기의 역할을 구별하기 위해 비슷한 두께의 나노튜브를 그림 4a는 적용된 바이어스 전압에서 이러한 샘플의 전계 방출 특성을 나타냅니다. S1, S4 및 S5의 평균 턴온 필드(최소 3개의 샘플에서 얻음)는 각각 3.3 ± 0.4, 4.2 ± 0.3 및 8.7 ± 0.5 V/μm입니다. 전계 방출 성능에 영향을 미치는 매개변수의 종류가 있지만, 유사한 튜브 두께를 나타내는 샘플이 동일한 조건에 따라 제작되었기 때문에 입자 크기에 다른 전계 방출 성능을 돌리는 것이 여전히 합리적입니다. 또한 더 작은 크기(S1의 경우 10.7nm)는 더 낮은 턴온 필드(3.3V/μm)에 해당합니다. S1은 최대 7.6mA/cm 2 의 최대 전류 밀도를 나타냅니다. 12.7 V/μm의 필드에서 보고된 값보다 훨씬 높은 반면 켜짐 필드는 참고 문헌 [14,15,16,17,18]의 결과와 비슷합니다.

<그림>

전류 밀도-전기장(J–E ) 플롯(a ) 및 10V μm −1 에서 S1의 전류 밀도 안정성 180분 동안(b )

<사진>

전류 밀도-전기장(J–E ) 구성. 해당하는 Fowler–Nordheim 플롯

TNT의 FE 거동은 그림 4b와 같이 잘 알려진 Fowler-Nordheim(FN) 방정식에 따라 모델링할 수 있습니다. 곡선의 좋은 선형 맞춤은 전계 방출 전류가 전계에 의해 추출된 장벽 터널링 전자에서만 발생한다는 것을 나타냅니다. FN 플롯의 기울기를 기준으로(k ), 다음 방정식을 사용하여 유효 일함수를 계산하는 것은 쉽습니다.

=− (6.83 × 10 3 )φ 3/2 /β .

필드 향상 계수(원래 TNT 어레이)가 445[18]라고 가정하면 S1, S4 및 S5에 대해 각각 1.2, 1.5 및 2.1 eV입니다. TNT의 턴온 전기장의 감소는 더 작은 TiO2로 인한 유효 전위 장벽 높이의 감소로 인해 발생합니다. 작살. 따라서 향상된 필드 성능을 결정립계 효과와 그에 따른 페르미 준위의 상향 이동에 기인하는 것이 합리적이며 이는 다음과 같이 해석될 수 있습니다[4, 19]. 다결정 재료는 결정립계에 의해 분리된 작은 나노결정질 입자로 구성되어 많은 수의 결정립계 결함을 유발합니다. 이러한 결함은 효과적인 전도 경로로 인해 전자 트래핑 및 전자 공급 모두에 이점이 있습니다. 이것이 캐리어 농도의 증가와 그에 따른 페르미 준위의 상향 이동에 대한 이유입니다[19]. 이 상승하는 페르미 준위는 향상된 전계 방출 성능을 설명하는 쉬운 전자 방출에 해당하는 일 함수(그림 4b)와 TNT의 유효 전위 장벽 높이를 감소시킬 수 있습니다.

결론

TNT 어레이는 소프트 템플릿과 하드 템플릿의 조합으로 합성되었습니다. 한편, AAO 멤브레인은 수직으로 정렬된 나노튜브를 유도합니다. 한편, 블록 공중합체와 TTIP와의 혼합 비율은 TiO2 입자 크기에 현저한 영향을 미칩니다. . 입자 크기와 FE 성능 사이의 관계가 처음으로 명확해졌습니다. 우리의 결과는 결정립 크기의 감소가 더 강한 결정립계 전도를 설명하고 페르미 준위의 상승으로 이어진다는 것을 나타냅니다. 이것이 더 낮은 일함수, 더 작은 유효 전위 장벽, 결과적으로 향상된 FE 성능에 대한 이유입니다.


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